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淺談射頻導納物位計的測量原理
      射頻導納量測技術是具有獨特優勢的物位量測技術。雖然跟一般的電容式量測技術的概念很相似，但是射頻導納技術在電子單元中加入了Driving-Shield電路和斬波電路，因此能夠實現阻抗和容抗的單獨量測。通過物理定律計算可得，任何掛料的阻抗和容抗的大小是相等的，所以由掛料產生的影響能夠被量測出來并且通過振蕩電路的移相，從總的輸出中消除。 
傳統的電容式 物位計 ，隨著物位上漲、材料覆蓋探測頭，電路中探測頭和介質之間的電容值(導電材料場合)或者探測頭和管壁之間的電容值(絕緣材料場合)隨之增加。由于物位的變化導致了電容橋的失衡，所以電容值的變化取決于被測材料的介電常數。然后通過對信號的檢波、放大，*后輸出相應的信號。然而，電容式物位儀表有一些缺點，特別是當探測頭有掛料的時候會嚴重影響量測結果。
射頻導納物位計 產品的探測頭安裝在儲料罐中，通過探測頭獲得物位變化引起的射頻信號的變化。探測頭的Driving-Shield端能夠阻止射頻電流通過掛料形成回路，保證了儀表量測的準確性。
射頻導納技術量測結果精度高，并且不受探測頭掛料的影響，是目前使用場合*廣泛的一種量測技術。從低溫-100℃到高溫800℃、從真空到6.3MPa強壓場合、從超短量程到120米超大量程，都能夠正常應用，并且能夠應用于不同類型的材料。
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